在各種應(yīng)用的電流相對(duì)于電壓關(guān)系 (IV) 測(cè)量中，吉時(shí)利2400圖形化系列SMU儀器可以提供高效智能的解決方案。

圖：由吉時(shí)利2400系列源表組成的I-V 測(cè)試系統(tǒng)

吉時(shí)利2400圖形化系列SMU儀器把源功能和測(cè)量功能緊密整合到一臺(tái)儀器中，提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載，實(shí)用性強(qiáng)。

吉時(shí)利2400圖形化系列SMU儀器采用用戶熟悉的圖形界面，操作簡(jiǎn)便。比如基于圖標(biāo)的菜單結(jié)構(gòu)，不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富，使用起來都非常簡(jiǎn)便。

圖：使用2450源表測(cè)試得出的I-V曲線

在碳化硅（SiC）和 氮化鎵（GaN）半導(dǎo)體設(shè)備開發(fā)的各階段， I-V 檢定起著重要的作用。首先，測(cè)試材料以確定適用性。再者，金氧半場(chǎng)效晶體管（MOSFET）等設(shè)備一經(jīng)制造，必須在進(jìn)行擊穿電壓、泄漏電流和斷開狀態(tài)電阻測(cè)試后才可將其安裝到電路板上。

圖：光電池測(cè)試

Keithley 2450型或2460型SourceMeter SMU儀器，能在提供電流和電壓的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量， 可以輕松生成太陽能電池和電池板的I-V檢定。