USB C 型電纜－連接器組件一致性測試

測量參數(shù)
 

• D+/D- 阻抗
• D+/D- 傳播時延
• D+/D- 對內(nèi)偏差
• 差分阻抗
• [原線材（Raw Cable）] 特征阻抗
• [原線材（Raw Cable）] 對內(nèi)偏差
• [配對連接器] 差分阻抗
• 低速信號要求
• D+/D- 對衰減
• ILfitatNq、IMR、IXT、IRL、差分至共模轉(zhuǎn)換、D+/D- 上的 IXT
• 屏蔽效應(yīng)
• 插入損耗
• 回波損耗
• 第 2 代信號對之間的近端串?dāng)_/遠(yuǎn)端串?dāng)_（NEXT/FEXT）
• D+/D- 對和第 2 代信號對之間的近端串?dāng)_/遠(yuǎn)端串?dāng)_（NEXT/FEXT）
• [原線材（Raw Cable）] 插入損耗
• [配對連接器] 插入損耗
• [配對連接器] 回波損耗
• [配對連接器] 第 2 代信號對之間的近端串?dāng)_/遠(yuǎn)端串?dāng)_（NEXT/FEXT）
• [配對連接器] D+/D- 對和第 2 代信號對之間的近端串?dāng)_/遠(yuǎn)端串?dāng)_（NEXT/FEXT）
• [配對連接器] 差分至共模轉(zhuǎn)換
• 低速信號要求
•